13911564578,010-82967128
當前位置：首頁 > 產(chǎn)品中心 > 澤攸科技電子顯微鏡 > TEM原位解決方案
TEM原位拉伸與360°水平旋轉(zhuǎn)樣樣品桿 PicoFemto透射電鏡原位拉伸樣品桿，可在室溫條件下對材料施加拉力，結(jié)合透射電鏡原位觀察材料結(jié)構(gòu)的變化。
原位MEMS加熱電學測量系統(tǒng)透射電子顯微鏡是提供在較高時間分辨率下得到原子級空間分辨率的實驗手段。
PicoFemto透射電鏡原位MEMS低溫電學測量系統(tǒng)，是在標配MEMS芯片樣品桿上集成低溫控制模塊，實現(xiàn)低溫電學測量或全溫區(qū)測量功能。
PicoFemto透射電鏡原位MEMS氣氛加熱測量系統(tǒng)，在透射電子顯微鏡中制造氣氛及高溫環(huán)境，實現(xiàn)1 Bar & 800 ℃的端觀測條件。
原位STM-TEM力電一體測量系統(tǒng)PicoFemto透射電子顯微鏡原位TEM-STM測量系統(tǒng)是在標準外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進行操縱和電學測量
聯(lián)系人：霍先生
地址：北京市昌平區(qū)吉晟別墅19-11
郵箱：huogang010@163.com
傳真：010-82967358歡迎您關(guān)注我們的微信號了解更多信息
掃一掃
歡迎來到