蔡司MultiSEM電子顯微鏡

簡要描述：蔡司MultiSEM電子顯微鏡開啟電子顯微鏡速度的革新時代
借助 MultiSEM 顯微鏡，您可以充分運用 91 條并行電子束的采集速度。現如今，您能夠以納米分辨率對厘米級樣品成像。這款出色的掃描電子顯微鏡（SEM）專為 7 x 24 小時的連續、可靠運行而設計。只需簡單設置高性能數據采集流程，MultiSEM 便能夠獨立地自動完成高襯度圖像采集。

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更新時間：2024-09-23
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　　蔡司MultiSEM電子顯微鏡開啟電子顯微鏡速度的革新時代

　　借助 MultiSEM 顯微鏡，您可以充分運用 91 條并行電子束的采集速度。現如今，您能夠以納米分辨率對厘米級樣品成像。這款出色的掃描電子顯微鏡(SEM)專為 7 x 24 小時的連續、可靠運行而設計。只需簡單設置高性能數據采集流程，MultiSEM 便能夠獨立地自動完成高襯度圖像采集。

　　技術參數：

　　MultiSEM 同時運用了多條電子束(綠色：照明通路)和多個探測器。微調探測通路能夠收集大量的二次電子(SE)用于成像。與分光鏡組合使用，可讓二次電子信號到達(紅色：探測通路)多探測器陣列。每條電子束在樣品的一個位置執行同步掃描程序，以此獲得單個拼片圖像。電子束呈六邊形排列。通過合并所有圖像拼片生成整幅圖像。

　　并行計算機設置程序用于快速記錄數據，確保整體高成像速度。圖像采集和工作流程控制在 MultiSEM 顯微鏡中獨立。

特點：

　　高速度和納米分辨率采集圖像

　　91 條電子束同時工作，擁有出色的成像速度。

　　在幾分鐘內對1 mm²的區域成像，分辨率高達 4 nm。

　　借助經優化的二次電子探測器，以低信噪比采集高襯度圖像。

　　大型樣品的采集和成像

　　MultiSEM 配備有一個可容納 10 cm x 10 cm 大小樣品的樣品夾。對整個樣品成像并發現所有細節，助力于科研。自動采集方案可實現大面積成像 - 您將獲得精細的納米圖像，且不丟失可見信息。

　　ZEN 成像軟件

　　使用成熟的ZEN軟件簡便直觀地操控 MultiSEM，該軟件被應用于所有蔡司成像系統智能化自動調節程序能夠幫助您以高分辨率和高襯度捕獲圖像根據樣品的實際情況，快速輕松地創建復雜的自動采集流程 MultiSEM的ZEN 軟件可高速進行連續并行成像開放的API軟件接口可提供靈活快速的應用開發

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