蔡司X射線顯微鏡 Xradia 515 Versa 是一款具有高性能和廣泛應用的先進顯微鏡

Xradia Context microCT X射線顯微鏡 蔡司Xradia Context是一款大視場、非破壞性3D X射線微米計算機斷層掃描系統(tǒng)。憑借強大的平臺和靈活的軟件控制源及探測器定位，您可以在完整的三維環(huán)境中對大尺寸、重量25 kg內和高尺度樣本進行成像，同樣也可以對小樣品進行高分辨率的成像。

蔡司 Xradia Synchrotron 顯微鏡蔡司在同步加速器實驗室中的 X 射線顯微鏡裝機量全球靠前，藉此不斷提升*研究機構的實力。在實驗室內引入蔡司 X 射線納米斷層成像和熒光顯微技術，讓耗時且耗費財力的內部開發(fā)成為過去。

創(chuàng)新的 蔡司 Xradia 800 Ultra顯微鏡，將高通量實驗室 X 射線源與專業(yè)的X 射線光學器件整合至一套獨立的超高分辨率 CT 掃描 X 射線顯微鏡中，從而填了 SEM、TEM 或 AFM 等現(xiàn)有高分辨率成像技術與光學顯微鏡技術或傳統(tǒng) microCT 技術之間的空白。

蔡司 Xradia 810 Ultra顯微鏡將納米級三維 X 射線的成像性能提升 10 倍。這款創(chuàng)新的 X 射線顯微鏡（XRM） 能在 5.4 keV 的低能量下工作，為中低原子序數(shù)樣品及科學與工業(yè)領域內的材料成像提供更出色的反差和圖像質量。

蔡司 Xradia 410 Versa顯微鏡 高性能三維 X 射線顯微鏡技術解決方案與傳統(tǒng)低成本、低性能且基于投影的計算機斷層掃描（CT）系統(tǒng)之間的空白。多種射線源的選擇可靈活應對多種樣品尺寸和樣品類型的成像應用。