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2023-11-08

質量控制是為確保所制造的零部件符合一組規定的質量標準或客戶要求的過程。通常涉及測量、檢查、測試或檢驗零部件上的各種特征，并將其與標準和規范（如CAD模型）進行比較，以確定是否符合要求。制造過程中的質量檢測很重要，因為它保證了始終如一的產品質量，并幫助公司保持高制造標準。消費者是那...

2025
11-11

形創三維掃描儀在精密制造中的應用分析隨著科技的發展，三維掃描技術已逐步成為精密制造領域中的關鍵技術之一。形創三維掃描儀作為一款高精度、高效率的掃描設備，在精密制造過程中扮演了重要角色。它通過快速捕捉物體的幾何形狀和尺寸，提供了一個準確的數字化模型，使得制造過程中的設計、加工、裝配等環節能夠更加精確和高效。形創三維掃描儀基于先進的光學和激光掃描技術，通過發射激光或光源掃描物體表面，獲取其空間幾何數據。通過反射信號接收裝置，可以準確測量物體表面的微小變化，生成點云數據。隨后，點云數據經過計算機處理和分析，最終轉化為...
2025
10-20

蔡司體視顯微鏡3D重建與測量技術應用指南蔡司體視顯微鏡憑借其靈活的機械設計和高精度光學系統，已成為材料科學、工業檢測及文物保護等領域3D重建與測量的核心工具。以下從操作流程、技術要點及典型應用三方面展開指南。一、3D重建操作流程樣本制備與固定將待測樣本（如金屬裂紋、文物碎片）置于專用載物臺，確保表面清潔且無遮擋。對于微小樣本，需使用防震載物臺以減少外界干擾。例如，在檢測電子器件焊接點時，需固定PCB板并標記關鍵區域。多角度圖像采集通過旋轉載物臺或移動顯微鏡，以5°-10°為間隔采集樣本不同視角的圖像。蔡司Smart...
2025
10-20

ZEISS Smartzoom 100守護電子制造的微米級精準品控新利器從智能手機的微型芯片到新能源汽車的功率模塊，每一個核心部件的質量均直接影響著產品的市場競爭力。伴隨元器件朝著微型化、高密度的方向發展，傳統檢測設備已難以契合“微米級”的精度要求。而蔡司ZEISSSmartzoom100全自動4K顯微鏡系統的問世，宛如為電子制造行業配備了一雙“精準洞察之眼”，憑借智能化技術攻克檢測難題，成為品質管控的關鍵利器。Smartzoom100客戶演示現場電子制造的核心癥結在于，微小缺陷可能引發一系列連鎖反應。以PCB板（印刷電路板）為例，其焊點直徑通常...
2025
10-20

堅韌線材，智能支架： ZEISS EVO 掃描電子顯微鏡助力新式醫用線材技術發展位于德國波鴻的IngpulsGmbH最初在要求嚴苛的汽車行業開展形狀記憶合金（SMA）相關業務——全球僅有少數幾家公司能在該領域立足。自2022年起，IngpulsGmbH將其專業技術應用于支架用超薄鎳鈦合金線材的生產。在德國，每年有超過30萬個支架被植入患者體內，用于支撐狹窄或堵塞的血管，確保心肌能持續獲得氧氣供應。為大幅降低血管再狹窄（即血管再次變窄）的風險，新式支架設計采用薄壁、柔性結構，并涂覆藥物涂層。Ingpuls正在推進一項突破性構想，例如生產直徑僅20微米的超細...
2025
9-26

蔡司Axioscan 7高性能薄片掃描及圖像分析系統在地質學研究中的五大核心優勢地質學研究正面臨宏觀巖相識別與微觀成分表征的深度整合難題，傳統顯微分析依賴人工操作，存在大面積樣品成像效率低（單張薄片全掃描需數小時）、數據碎片化（宏觀與微觀數據難以關聯）、定量分析主觀性強等局限[2]。蔡司Axioscan7高性能薄片掃描及圖像分析報告系統，通過與ZENcore軟件深度協同，構建“成像-分析-共享”全流程智能化解決方案，其集成的高精度光學系統、AI驅動分析引擎及大數據處理能力，為火山學、能源地質、沉積學等領域研究提供了革命性技術支撐。使用Axioscan7數...
2025
9-15

ZEISS LSM 900 MAT 蔡司材料激光共聚焦顯微解決方案蔡司LSM900MAT共聚焦激光掃描顯微鏡（CLSM），是專為材料研究打造的多功能成像系統——可升級正置AxioImager.Z2m或倒置AxioObserver7光學顯微鏡，融合光學顯微與共聚焦成像能力，既能實現明場、暗場、偏光、熒光等傳統觀察，又能通過非接觸式檢測完成三維表面形貌分析與無損測量，是材料科學分析研究的多維度和多尺度分析解決方案，甚至配置共聚焦熒光和Airyscan還能夠實現生物材料樣品高分辨熒光表征。ZEISSLSM900MAT材料激光共聚焦顯微鏡一、核心優...
2025
9-15

便攜式3D掃描儀的環境適應性技巧與解決方案便攜式3D掃描儀的環境適應性直接影響其測量精度與數據可靠性，需從光照、溫濕度、振動、電磁干擾等核心因素入手，結合設備特性制定針對性解決方案。光照條件優化是首要任務。強光直射或反光環境會導致激光信號衰減或雜散光干擾，引發數據缺失或噪點。例如，在金屬工件檢測中，高反光表面可能使掃描儀無法捕捉完整幾何特征。解決方案包括：使用啞光漆或抗反射噴霧降低表面反射率；調整掃描角度使激光垂直入射，減少漫反射；若環境光無法控制，可啟用掃描儀的動態曝光補償功能，或搭配遮光罩構建局部暗室。溫濕度控制...

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